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便攜式場(chǎng)差測(cè)試儀量程

發(fā)布時(shí)間: 2021-12-02  點(diǎn)擊次數(shù): 870次

便攜式場(chǎng)差測(cè)試儀 剩磁測(cè)試儀 型號(hào):JCC-2

一、產(chǎn)品應(yīng)用:
便攜式場(chǎng)差是一款采用磁通門弱磁測(cè)量的精密儀器,具有輕巧便攜、操作簡(jiǎn)便、工作穩(wěn)定、讀數(shù)可靠的測(cè)量?jī)x器,是實(shí)驗(yàn)室、野外探測(cè)的測(cè)量?jī)x器;主要用于航天、航空、核電、石化、電子、機(jī)械、地質(zhì)鉆探、材料、汽車、鑄造、醫(yī)療等工業(yè)的的無(wú)損測(cè)量;于實(shí)驗(yàn)室、特殊場(chǎng)合磁場(chǎng)差、漏磁、剩磁的測(cè)量。
1.永磁材料、軟磁材料等退磁后的微弱剩磁測(cè)量。
2.防磁罩、屏蔽罩等漏磁強(qiáng)度測(cè)量、外表面分布磁場(chǎng)測(cè)量。
二、產(chǎn)品參數(shù)特點(diǎn):
1. 磁場(chǎng)差測(cè)量?jī)x特點(diǎn):
1.防護(hù)等級(jí):IP 60
2.儀器尺寸:140 x 70 x 28 mm (長(zhǎng) x 寬 x 高) 
3.顯示屏幕:4位液晶斷碼
4.儀器重量:0.3 kg     
5.充電器:AC100~220V
6.待機(jī)時(shí)間:500小時(shí)
7. 測(cè)量時(shí)間:大于10小時(shí)
注:充電中嚴(yán)禁測(cè)量。
2. JCC-2C磁場(chǎng)差測(cè)量?jī)x測(cè)量參數(shù):
1 測(cè)量范圍:0~±199.9uT.
2 有效分辨率:0.1uT.
3 測(cè)量誤差:±2.5% 
注:測(cè)量磁場(chǎng)差時(shí),儀器顯示的讀數(shù)為當(dāng)前20cm之間的磁場(chǎng)差值。

三、操作說(shuō)明:
1. 弱磁場(chǎng)梯度測(cè)量?jī)x測(cè)量方法:
1.1插上測(cè)量探頭。
1.2按儀器面板上的電源鍵啟動(dòng)儀器。
1.3.使儀器預(yù)熱10分鐘。
1.4 測(cè)量前儀器自校
本儀器帶有自校功能,測(cè)量前應(yīng)對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn),其校準(zhǔn)方法為轉(zhuǎn)動(dòng)探頭,使儀器數(shù)字表頭指示為零,在保持儀器輸出為零的狀態(tài)下,按下“校準(zhǔn)"開(kāi)關(guān),此時(shí)儀器應(yīng)顯示10μT,若偏離該值,可通過(guò)調(diào)節(jié)儀器面板上的“校準(zhǔn)調(diào)節(jié)"電位器調(diào)到10μT,允許±0.1的偏差。
1.5剩磁測(cè)量
1.5.1測(cè)量零、部件剩磁時(shí),將探頭端頭垂直于被測(cè)物體(注意應(yīng)保持被測(cè)物體表面清潔,沒(méi)有鐵屑等鐵磁物粉末物),并轉(zhuǎn)動(dòng)探頭使儀器顯示為零時(shí),輕輕接觸到被測(cè)物體表面,便可對(duì)零、部件的表面剩磁進(jìn)行直接測(cè)量。
        1.5.2 由于零部件剩磁分布不均勻,測(cè)量時(shí)可以沿被測(cè)零部件周圍進(jìn)行多點(diǎn)測(cè)量,以便確定剩磁大值及位置。
1.5.3 測(cè)量讀數(shù)
當(dāng)測(cè)量探頭垂直于被測(cè)物體表面并與被測(cè)物體接觸時(shí),儀器顯示的便是被測(cè)零、部件的剩磁數(shù)據(jù)(說(shuō)明:該儀器測(cè)量的是材料周圍20mm間的磁場(chǎng)差值,即梯度值),并不是材料表面的剩磁,儀器測(cè)量的剩磁應(yīng)小于材料實(shí)際剩磁,但根據(jù)該差值可以直接反映或比較出同批材料的剩磁大?。?br style="margin: 0px; padding: 0px;"/>1.5.4 該探頭還可以用于探測(cè)非金屬物中的鐵基物質(zhì)(如木質(zhì)材料中的鐵釘類)。
1.5.5 該儀器還可以用來(lái)判定磁場(chǎng)的極性,當(dāng)測(cè)量數(shù)據(jù)顯示為正時(shí),則表明被測(cè)磁場(chǎng)為N極,測(cè)量數(shù)據(jù)顯示為負(fù)時(shí),則表明被測(cè)磁場(chǎng)為S極。
1.5.6為了保證儀器測(cè)量準(zhǔn)確度,儀器使用一段時(shí)間后,可隨時(shí)對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn),校準(zhǔn)方法同1.4條。
1.5.7 儀器超量程時(shí)顯示“1"或“-1"。



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