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渦流測(cè)厚儀 型號(hào):TC-ED400

發(fā)布時(shí)間: 2012-11-28  點(diǎn)擊次數(shù): 1378次

渦流測(cè)厚儀 型號(hào):TC-ED400

TC-ED400型渦流測(cè)厚儀是TC-ED400型測(cè)厚儀的改進(jìn)型,儀器性能大幅度提高。
      儀器適于測(cè)量各種非磁性金屬基體上緣性覆蓋層的厚度。主要用于測(cè)量鋁合金型材表面的陽氧化膜或涂層厚度,還可用于測(cè)量其它鋁材料、鋁工件表面的陽氧化膜或涂層厚度,以及其他有色金屬材料上緣性覆蓋層的厚度,測(cè)量塑料薄膜及紙張厚度。
      儀器適于在生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)、銷售現(xiàn)場(chǎng)或施工現(xiàn)場(chǎng)對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行快速、無損的膜厚檢查, 可用于生產(chǎn)檢驗(yàn)、驗(yàn)收檢驗(yàn)和質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)。
      儀器符合標(biāo)準(zhǔn)GB/T4957-2003 《非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測(cè)量渦流法》。
儀器特點(diǎn)
    TC-ED400型渦流測(cè)厚儀與TC-ED400型相比,具有如下特點(diǎn):
量程寬   TC-ED400型的量程達(dá)到0~500μm。
精度高   TC-ED400型的測(cè)量精度達(dá)到2%。
分辨率高  TC-ED400型的分辨率達(dá)到0.1μm。
校正簡(jiǎn)便   只校正“0”和“50μm”兩點(diǎn),即可在全量程范圍內(nèi)保證設(shè)計(jì)精度。
基體導(dǎo)電率影響小   基體材料從純鋁變化到各種鋁合金、紫銅、黃銅時(shí),測(cè)量
   誤差不大于1~2μm。
可靠性提高   采用高集成度、高穩(wěn)定性電子器件,電路結(jié)構(gòu)優(yōu)化,儀器可靠性
   提高。
穩(wěn)定性提高   采用的溫度補(bǔ)償技術(shù),測(cè)量值隨環(huán)境溫度的變化很小。儀器
   校正一次可在生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)使用。
探頭線壽命長(zhǎng)   采用德國(guó)進(jìn)口的,在德國(guó)測(cè)厚儀上使用的探頭線,探頭線壽命
   可大大延長(zhǎng)。
探頭芯壽命長(zhǎng)   采用高強(qiáng)度磁芯材料,微調(diào)了探頭設(shè)計(jì),探頭芯壽命可大大延
   長(zhǎng)。
探頭可互換   外接式探頭,探頭損壞后,使用者可自行更換備用探頭。儀器無
   需返廠維修。

測(cè)量范圍:     0~500μm
測(cè)量精度:     0~50μm:±1μm;
                    50~500μm:±2%
分 辨 率:     0~50μm:0.1μm、
                    50~500μm:1μm;
                    0~500μm:1μm(可選)
使用溫度:     5~45℃
外形尺寸:     150mm×80mm×30mm
重      量:     260g

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